表面粗糙度測量儀

Surtronic Duo II 被廣泛用于生產現(xiàn)場、工業(yè)廠房和檢測室。

Surtronic Duo II 可用于評估地面的安全性，也可幫助地面材料制造商控制生產過程中的粗糙度。

它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓。

Surtronic Duo II 專門用于測量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評估軟件結合使用，以檢查地面的粗糙度。

Surtronic 的分辨率為 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標準為 ISO 4287。

表面粗糙度測量儀

Surtronic Duo II ，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。

Surtronic Duo II 的特點:

• 測量 - 觸覺測量按鈕，適用難測到的位置

• 分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置，分為顯示/控制裝置和驅動裝置兩部分

• 金剛石測針和壓電傳感器 - 帶金剛石的堅固耐磨的壓電傳感器測針，確保測量結果的可靠性。

• 藍牙技術 - 在驅動裝置和顯示/控制裝置之間進行快速可靠的通信

技術參數(shù)

量 程： 200um

行程：   5mm
取樣長度： 0.8mm+/-15%

參數(shù)：  Ra：0.1um-40um
精 度： Ra:0.1um Ra：0.1um-199um
Rz:0.1um 尺寸：125*80*38mm
檢測方式： 壓電式 重量：200g

關于泰勒-霍普森

泰勒-霍普森有限公司是美國阿美特克公司的一家子公司，阿美特克公司總部設在賓夕法尼亞州Berwyn市，擁有超過15,000名員工，年收入超過36億美元，公司事業(yè)蒸蒸日上。阿美特克公司為泰勒-霍普森創(chuàng)造了一個*而強大的現(xiàn)代環(huán)境，以確保泰勒-霍普森未來事業(yè)的連續(xù)成功。

我們持續(xù)不斷地開發(fā)我們的產品組合，以滿足行業(yè)今天所面臨的不斷發(fā)展變化的需求。泰勒-霍普森產品廣泛應用于下一代技術的開發(fā)和研究，其中，應用廣泛的領域包括半導體、硬盤、精密光學儀器和能源技術。